概述
Evolve 512 Delta EMCCD 以单分子级灵敏度表征纳米材料与量子点光学特性。
背景与研究场景
Walter Scott 工程中心开展光学与纳米材料研究,需要在弱荧光条件下解析纳米结构发射特性。
技术挑战
单分子与弱发射信号接近读出噪声极限,需要深度制冷 EMCCD 与高 QE。
成像方案与成果
Evolve 512 Delta 为纳米材料荧光与光谱表征提供高灵敏度探测。


Optics and Nanomaterials
单分子级灵敏度成像表征纳米材料与量子点光学特性。
Evolve 512 Delta EMCCD 以单分子级灵敏度表征纳米材料与量子点光学特性。
Walter Scott 工程中心开展光学与纳米材料研究,需要在弱荧光条件下解析纳米结构发射特性。
单分子与弱发射信号接近读出噪声极限,需要深度制冷 EMCCD 与高 QE。
Evolve 512 Delta 为纳米材料荧光与光谱表征提供高灵敏度探测。

