Specim FX19 · NIR/SWIR 工业高光谱
NIR/SWIR (1130–1920 nm) · 640 空间像素
产品介绍
FX19 覆盖 1130–1920 nm，面向更深的 NIR/SWIR 对比度需求，可用于含水、涂层与材料差异检测。
产品概述
NIR/SWIR 工业高光谱 面向科研与高端 R&D 成像需求。 线扫 · 成像式 · 机载 · 显微
- 光谱分辨率与空间分辨率需权衡；推扫与线扫适合运动平台
- 可见—近红外至 SWIR 波段覆盖多数农业、食品与材料应用
- 内置校准、暗电流校正与参考白板流程影响定量反演
- 线扫（Line Scan）适合传送带与实验室扫描台
- 成像式（Snapshot / Push-broom）便于便携式与野外调查
- 机载与无人机方案需考虑姿态、曝光与 GPS/IMU 同步
Specim FX19 · NIR/SWIR 工业高光谱 · 型号规格
FX19 覆盖 1130–1920 nm，面向更深的 NIR/SWIR 对比度需求，可用于含水、涂层与材料差异检测。
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| FX19 | 1130–1920 nm | 8 nm | 3.5 nm | 224 | 640 | 1.7 | 0.80 | 18.7 μm | 42 μm | 12.0 mm | 1000:1 | 16 bit | 1.4 Me⁻ | — | +5 to +40 °C | 527 fps | 查看 PDF |
经典案例
食品品质与安全
FX 系列在烘焙、肉类与果蔬等产线上做成分与缺陷无损检测。
农业与植被遥感
AFX 与 FX VNIR/NIR 用于作物表型、植被分类与胁迫监测。
塑料分选与回收
FX17/FX19/FX50 按化学组成识别 PE、PP、PVC 及黑色塑料。
采矿与地质填图
FX120 LWIR 与 AFX 机载方案用于矿物填图与岩芯扫描。
印刷与表面检测
FX10 在可见—近红外波段检测印刷密度、显示与光源一致性。
无人机遥感采集
AFX 一体式载荷配合航线规划，获取高空间分辨率高光谱条带。